请问是否有必要将nand翻转允错位改为4b/512b

因为发现似乎大部分的nand 纠错能力基本都在4b/512b，小于等于芯片纠错能力可保障数据可靠性，大于纠错能力值则数据可靠性大大降低
请问是否有必要将默认的允错位比例修改为4b/512b 或者1b/512b,每次手动修改有些累赘，越小的比例可能会导致数据校验出错？但是小比列可大大提高数据可靠性

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Test发表于 2021-8-8 22:24 | 显示全部帖子

以H27U2G8F2C为例，通过手册查询出其纠错能力是1b/512B，如果使用软件默认的8b/512B来读软件允许读出的数据每512byte中有8位翻转，但是芯片纠错能力只有1位这样是否会降低读出的数据可靠性，这样的数据再次写入芯片是否会引起异常
是否考虑将默认的nand纠错能力设置为最低比例档

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Test发表于 2021-8-9 11:03 | 显示全部帖子

回复 3# admin

感谢回复是的，如果每个芯片都去查阅手册工作量非常大，这个不现实。那么是否可以在新增芯片时保存用户自行设定的允错位比例呢，目前新增芯片时即使手动更改了比例也并不会被保存进新的芯片中。
因为既然是用户按手册自定义了芯片，那么还是可以使用手册推荐的参数的