读取Nand Flash冗余区和坏块，并将其剔除问题
[attach]1205[/attach]我需要读取Nand芯片内的源数据,下面的操作搞不定：
当第6项：选择“不包含冗余区”；第7项：选择“跳过坏块”，读取到的是：冗余区的数据和坏块的标记数据——除了FF就是坏块标记，128MB的芯片，读出的数据是4MB大小，是选反了吗？还是我操作错误。 [b]回复 [url=http://forums.xgecu.com/redirect.php?goto=findpost&pid=1859&ptid=595]1#[/url] [i]AJLL[/i] [/b]
有的芯片，软件设计时使用独特的坏块标记，这种情况不兼容，不能跳过坏块读取及写入 [b]回复 [url=http://forums.xgecu.com/redirect.php?goto=findpost&pid=1869&ptid=595]2#[/url] [i]admin[/i] [/b]
感谢回复，这个芯片我擦除子一下，再查坏快是0 bad blocks。进入所谓的“坏块”内查看，全部是固件的原代码，分区烧入的（包含冗余区）。也就是说TL866II PLUS查到的“坏块”，其实写入的是原代码（含00b部分），非坏块部分是没有写入代码的。“坏块”内的数据才是真正有用的。
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